根據(jù)晶體對 X射線的衍射特征一衍射線的位置、強度及數(shù)量來鑒定結(jié)晶物質(zhì)之物相的方法，就是 X 射線物相分析法。每一種結(jié)晶物質(zhì)都有各自獨特的化學組成和晶體結(jié)構(gòu)。沒有任何兩種物質(zhì)，它們的晶胞大小、質(zhì)點種類及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。當X射線波長與晶體面間距值大致相當時就可以產(chǎn)生衍射。

當X射線被晶體衍射時，每一種結(jié)晶物質(zhì)都有自已獨特的衍射花樣，它們的特征可以用各個衍射品面間距d 和射線的相對強度 I/I1來表征。其中晶面間距 d 與晶胞的形狀和大小有關(guān)相對強度則與質(zhì)點的種類及其在晶胞中的位置有關(guān)。任何一種結(jié)晶物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)d和I/1 是其晶體結(jié)構(gòu)的必然反映，可以根據(jù)它們來鑒別結(jié)晶物質(zhì)的物相。如果您需要了解更多X 射線衍射儀物相分析測試技術(shù)的信息，請聯(lián)系我們，微源檢測實驗室將為您安排負責的工程師答疑并針對樣品需求情況提供專業(yè)的服務。歡迎致電咨詢！