根據(jù)晶體對 X射線的衍射特征一衍射線的位置、強度及數(shù)量來鑒定結(jié)晶物質(zhì)之物相的方法，就是 X 射線物相分析法。每一種結(jié)晶物質(zhì)都有各自獨特的化學(xué)組成和晶體結(jié)構(gòu)。沒有任何兩種物質(zhì)，它們的晶胞大小、質(zhì)點種類及其在晶胞中的排列方式是完全一致的。當(dāng)X射線波長與晶體面間距值大致相當(dāng)時就可以產(chǎn)生衍射。

當(dāng)X射線被晶體衍射時，每一種結(jié)晶物質(zhì)都有自已獨特的衍射花樣，它們的特征可以用各個衍射品面間距d 和射線的相對強度 I/I1來表征。其中晶面間距 d 與晶胞的形狀和大小有關(guān)相對強度則與質(zhì)點的種類及其在晶胞中的位置有關(guān)。任何一種結(jié)晶物質(zhì)的衍射數(shù)據(jù)d和I/1 是其晶體結(jié)構(gòu)的必然反映，可以根據(jù)它們來鑒別結(jié)晶物質(zhì)的物相。如果您需要了解更多X 射線衍射儀物相分析測試技術(shù)的信息，請聯(lián)系我們，微源檢測實驗室將為您安排負責(zé)的工程師答疑并針對樣品需求情況提供專業(yè)的服務(wù)。歡迎致電咨詢！