| 單價： | 面議 |
| 發(fā)貨期限： | 自買家付款之日起 天內(nèi)發(fā)貨 |
| 所在地： | 直轄市 北京 |
| 有效期至： | 長期有效 |
| 發(fā)布時間： | 2023-12-18 02:56 |
| 最后更新： | 2023-12-18 02:56 |
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PCIE接口性能測試
使用Sigtest軟件進(jìn)行波形參數(shù)分析，并生產(chǎn)測試報告，判斷結(jié)果
嵌入封裝影響后，用示波器采集封裝影響后的波形文件（數(shù)據(jù)信號），直接采集時鐘信號，分別存儲成獨立的文件（一個時鐘信號文件，一個數(shù)據(jù)信號文件），未來提高存儲速度，建議存為.bin或.wfm等二進(jìn)制格式的文件。把文件導(dǎo)入到SigTest分析工具里進(jìn)行后分析處理，如下圖所示。
數(shù)據(jù)類型（Data Type)選擇：Dual Port Differential。
輸入正確的采樣間隔（50GSa/s采樣率對應(yīng)為20ps, 40GSa/s采樣率對應(yīng)為25ps）。
選擇正確的模板文件：PCIE_3_8GB_DUAL_PORT_MULTI_CTLE_DFE.