一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。

根據(jù)Compaq可靠度工程部（CRE）的測試規(guī)范，Ea是機(jī)臺所有零件Ea的平均值。如果新機(jī)種的Ea無法計(jì)算，可以將Ea設(shè)為0.67eV，做常數(shù)處理。

加速因子計(jì)算范例:

例1：Ea=0.50eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k，Ta=40℃+273=313°k

AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.

例2：Ea=0.65eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k，Ta=40℃+273=313°k

AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1./

4、MTBF計(jì)算范例:

例1：某機(jī)型為例：30臺樣品，信心度為0.6，MTBF目標(biāo)值為240000小時(shí)，用戶使用溫度為35度，測試溫度為40度。

假設(shè)在測試結(jié)束前不失效，求總的運(yùn)行時(shí)間T及MTBF測試要用的天數(shù)D。

解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=0， X2(α,2r+2)=1.83

240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h

D=T/(30*24)==206.60天

（2）假設(shè)在測試11天后，有一臺失效，不替換失效樣品，即29臺接著測試，求繼續(xù)測試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測試要用的天數(shù)d。

解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04

注意：此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ，因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測了11天

240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h

d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天

D=d+11=460.31 + 11=471.31天

（3）假設(shè)在測試11天后，有一臺失效，替換失效樣品，即仍然是30臺接著測試，求繼續(xù)測試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測試要用的天數(shù)d。

a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天

b: 此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ，因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測了11天

240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h

d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天

D=d+11=444.97 + 11=455.97天

MTBF測試，Burn-in測試，ALT區(qū)別:

圖片

Burn-in：“老化”測試，指產(chǎn)品在規(guī)定的應(yīng)力條件下，使其特性達(dá)到穩(wěn)定的方法。

ALT：Accelerated life test，加速壽命測試，是在超過使用環(huán)境條件的應(yīng)力水平下對樣品進(jìn)行的壽命試驗(yàn)。